Touch ID自動(dòng)功能測(cè)試線體
Product introduction
用途：用于各類手機(jī)、平板電腦等指紋識(shí)別模組(Touch ID)的全自動(dòng)功能測(cè)試
配置：整線配3個(gè)測(cè)試工站，每工站8個(gè)治具，每個(gè)治具4個(gè)測(cè)試穴位，整線Total 96個(gè)測(cè)試穴位，每個(gè)穴位可獨(dú)立測(cè)試
UPH: 1650（測(cè)試時(shí)間152S）
特征：
在線式自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備
自動(dòng)AAB測(cè)試
可靈活在此線體上增加或減少站別
模式：Offline & Inline模式（模式更換需修改部分機(jī)構(gòu)）