適用于:IC 功能測試機 & 外觀檢測自動化
功能:
功能測試: ICT 測試 (e.g. DC, DVDS, RAS, RG, QA…)
AOI: 同時檢測6個面的外觀,鐳射缺陷,pin角缺損…
分選: 編帶封裝
測試: ICT 測試 + 所有面的外觀檢測
上料: 振動盤
下料: 編帶
換盤:自動換盤,配合VGA實現(xiàn)無人操作
UPH: 12000 (測試時間200ms)
分Bin:
功能bin: 8 個 bins
外觀 bin: 3 個 bins
尺寸: 2000*1300*1700mm
測試工位: 24