適用于:半導(dǎo)體IC外觀檢測(cè)
檢測(cè)精度:0.05mm
特點(diǎn):
可檢測(cè)產(chǎn)品6個(gè)不同面
可檢測(cè)IC不良多達(dá)30種(可依客戶需求開(kāi)發(fā))
可兼容IC大小從8mm到40mm
高速轉(zhuǎn)塔快速分料
料管重力式上下料
檢測(cè)準(zhǔn)確率:> 99%
檢測(cè)項(xiàng)目:
塑料體類缺陷(毛邊、殘膠、崩裂、刮傷)
引腳類缺陷(裸銅、毛刺、彎曲、變形、斷角、長(zhǎng)短腳、偏移…)
散熱片缺陷(鍍層玷污、溢膠、毛邊、刮傷)
印記缺陷
UPH: 18000