IGBT/SIC 封測(cè)Handler - 外掛式
產(chǎn)品介紹
適用于：IGBT/SIC 高溫、室溫功能測(cè)試 & 外觀檢測(cè)
上料、取料：配合AGV實(shí)現(xiàn)自動(dòng)上料、取料
ISO測(cè)試： 雙ISO測(cè)試工位
預(yù)熱：腔體溫度范圍（Room Temp ~ 180℃），溫控精度：±3℃
AC/DC測(cè)試：
可實(shí)現(xiàn)AC和DC的通電測(cè)試
測(cè)試時(shí)，可實(shí)現(xiàn)（Room Temp ~ 300℃）的溫度配比，溫控精度：±3℃
視覺(jué)檢測(cè):
Mark檢測(cè)：檢測(cè)印碼錯(cuò)字、無(wú)印字、模糊、印刷字體反向、漏字、斷字，塑封體缺損，未填充（空洞）等
外觀檢測(cè)：管腳長(zhǎng)度、管腳寬度、管腳間距、脫落、缺損、表面?zhèn)?、管腳歪斜等缺陷，塑封體缺損、劃痕等
弧度測(cè)試
UPH：60pcs/H （基于測(cè)試時(shí)間55S）